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6220 型直流電流源和 6221 型交流和直流電流源將易用性與極低的電流噪聲相結合。 在測試環境中，從研發到生產，尤其是在半導體、納米技術和超導體行業，低電流源對于應用至關重要。 6220 型和 6221 型具有高精度源和內置控制功能，非常適合使用增量模式、脈沖測量和微分電導測量的霍爾測量、電阻測量等應用。

連接時，2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺儀器一樣運行。2182A/622X 組合是電阻測量、脈沖式 I-V 測量和微分電導測量的理想工具，比其他解決方案具有更顯著的優勢。2182A/622X 組合也非常適合許多納米技術應用，因為它測量電阻時可以不消耗被測器件 (DUT) 的太多功率，否則可能會導致結果無效，甚至損壞 DUT。

雙通道 2182A 型納伏表進行穩定的低噪聲電壓測量，以及適合可靠且重復地檢定低阻材料和器件。 相比其他低電壓測量解決方案，其測量速度更快，噪聲性能顯著提高。 它提供簡化的增量模式，適用于結合反向電流源（如 6220 或 6221 型號）進行電阻測量。

從三個敏感選項中選擇，實現精確的高阻抗和低電流測量。5? 位 6514 型和 6517B 型靜電計提供 1fA 靈敏度，輸入阻抗 200TΩ 的電壓測量，以及低至 10fC 的電荷測量。6? 位 6430 型亞 fA 遠程 SourceMeter SMU 儀器能夠以 1aA 的靈敏度測量電流。其噪聲低、偏差小，非常適用于研究單電子器件、高電阻納米線和納米管、聚合物以及電化學應用。

開發和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態電流和電容測量。 Keithley參數波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設備類型和測試參數。Keithley參數波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測試（IV曲線測試）、電容電壓曲線測試（CV曲線測試）和高功率脈沖IV曲線測量。

2606B 高密度系統 SourceMeter (SMU) 儀器在 1U 高的機箱中提供四條 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要優化占地空間并減少測試時間和成本，2606B 將密度提高 3 倍、提高吞吐量并盡量減少增加測試設備機架的需求。 此 SMU 為測試激光二極管、LED、2 和 3 端子半導體等生產的理想解決方案。